WITec alpha 300S 掃描近場光學(xué)顯微鏡

產(chǎn)品介紹

WITec alpha 300S 掃描近場光學(xué)顯微鏡

WITec alpha 300S*的懸臂式掃描近場光學(xué)顯微鏡

alpha 300S一款操作簡易的掃描近場光學(xué)顯微鏡（SNOM），采用*設(shè)備的中空懸臂式近場探針實(shí)現(xiàn)超越衍射極限的光學(xué)分辨率。alpha 300S系統(tǒng)也具備*的兼容性和擴(kuò)展性，可與共聚焦光學(xué)/拉面顯微鏡及原子力顯微鏡集成在同一臺儀器上，僅需旋轉(zhuǎn)物鏡轉(zhuǎn)輪即可實(shí)現(xiàn)不同模式切換。

WITec alpha 300S 掃描近場光學(xué)顯微鏡

WITec alpha 300S是一種純近場光學(xué)顯微鏡，在很多樣品上都可獲得*的超高分辨率，并且擁有透射與反射式兩種模式。

該近場光學(xué)顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源。 alpha300S 系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動進(jìn)針及調(diào)節(jié)等自動測試流程，操作非常簡便、直觀。

由于近場光學(xué)信號極其微弱，alpha300 S 近場光學(xué)顯微鏡配備高靈敏單光子計(jì)數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管，并同時(shí)提供檢測器快速超載保護(hù)。更重要的是，UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統(tǒng)兼容，實(shí)現(xiàn)近場光譜與成像測量。

關(guān)鍵特性：

• 突破衍射極限的空間光學(xué)分辨率（橫向約 60 nm)

• 的 SNOM 探針技術(shù)

• 在空氣與液體中均可使用

• 包含多種原子力與光學(xué)顯微鏡模式

• 非破壞性、無需標(biāo)記的超高分辨成像技術(shù)，基本不需要樣品制備

• 可升級到關(guān)聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像

• 集成三種技術(shù)到一臺儀器上：共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM

技術(shù)參數(shù)：

1）工作模式：近場顯微鏡，共聚焦顯微鏡，原子力顯微鏡三種工作模式；
2）近場光學(xué)顯微鏡分辨率：為50nm
3) 共聚焦拉曼顯微鏡分辨率：200nm
4) 掃描臺掃描范圍：100 x 100 x 20 μm
5）探測器：光電倍增管（PMT）或雪崩二極管（APD）